首页 > 产品中心 > ZXHS-308手持式回损测试仪

ZXHS-308手持式回损测试仪

用于测量各种光器件、光链路的反射衰耗,控制光纤接头质量,是应用于现场的最优化解决方案

参考标准:

●测试数据有存储上传功能

●支持 USB 供电功能

●界面简单,易于操作




注: 关于产品购买、技术维护等服务,欢迎致电! 4000-828-027
产品简介

ZXHS-308手持式回损测试仪设计用于测量各种光器件、光链路的反射衰耗,控制光纤接头质量,是应用于现场的最优化解决方案。可分别用做光回损测试仪、插损测量仪、光功率计、光源,并具有数据储存功能。


性能特点
技术指标

测试波长(nm)

1310/1550 ±20

谱宽(nm

<5

输出功率(dBm

-1

稳定度(dB/30min2

±0.05

测量范围(dB

070

精度(dB3

±0.5

分辨率 dB

0.01

接口类型

FC/APC

光插损(功率计) 模式

波长范围(nm

800   1700

校准波长(nm

850130013101490  1550  1625

显示单位

dBm dB xW

测量范围(dBm

+6  -80@(1310\1550nm)

+6  -75@(其它波长)

不确定度(dB 4

±0 25

显示屏

LCD

通讯接口

USB

电源(V

3  1 5V AA 电池/USB 供电

工作温度(℃)

-10+60

存储温度(℃)

-25+70

存储温度(℃)

-25+70

相对湿度

0~85% (不冷凝)

外观尺寸(mm L*W*H

180*90*36.5

重量(g ,不含护套、电池)

380

注:了解更多国电中星产品信息请进入 产品中心 。服务热线:400-0828-027

服务承诺
相关产品
相关文章